DECTRIS PILATUS3 R CdTe混合像素光子计数X射线探测器
1、产品特点：DECTRIS 混合像素光子计数X射线探测器
PILATUS3 R CdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉（CdTe）传感器中直接检测硬X射线的优点。
与闪烁体的检测器相比，混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。 CdTe为Mo，Ag和In辐射提供接近100％的吸收效率。结合无噪声单光子计数，这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。
实验室中的X射线源，尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多，因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号，由于没有暗电流和读出噪音，PILATUS3 R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性，例如复位噪声和非线性电荷响应。相反，由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供动力的快速计数电子设备,结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围，*兼容所有实验室的X射线源。
具有挑战性的实验室应用（如电荷密度研究和配对分布函数分析）依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据，PILATUS3 R CdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的*组合，并且是实验室中这些要求的全能匹配。
2、核心优势：DECTRIS 混合像素光子计数X射线探测器
- Mo，Ag和In量子效率> 90％
- 直接检测清晰的空间分辨率
- 没有读出噪音，也没有黑暗信号达到高精度
- 高动态范围
- 荧光背景抑制
- 同步辐射证明的辐射硬度
- 免维护运行
- 高可靠性：没有容易发生故障的密封或复杂，冷却至室温以下
3、应用领域
- 电荷密度分析
- 配对功能（PDF）分析
- 高分辨率化学结晶学
- 高压/高温XRD
- 关键尺寸SAXS
- 计算机断层扫描（CT）
- 无损检测（NDT）
4、技术参数：
PILATUS3 R CdTe | 300K | 300K-W |
探测器模块数量 | 1 × 3 | 3 x 1 |
有效面积：宽×高 [mm²] | 83.8 × 106.5 | 253.7 x 33.5 |
像素大小 [μm²] | 172 x 172 | |
总像素数量 | 487 × 619 | 1475 × 195 |
间隙宽度, 水平/垂直（像素） *每个模块之间水平间隙增加1个像素 | - */ 17 | 7* / - |
非灵敏区 [ % ] | 5.7 | 1.1 |
缺陷像素 | < 0.1% | |
帧频 [Hz] | 20 | |
读出时间 [ms] | 7 | |
点扩散函数 | 1 pixel（FWHM） | |
计数器深度 | 20 bits（1,048,576 counts） | |
功耗 [W] | 30 | |
尺寸（WHD）[mm³] | 158 x 193 x 262 | 280 x 62 x 296 |
重量 [kg] | 7.5 | 7.0 |
模块冷却 | 水冷 | |
外接触发电压 | 5V TTL | |
