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DECTRIS PILATUS3 混合像素光子计数X射线探测器

  • 发布日期:2020-04-25      浏览次数:107
    • DECTRIS PILATUS3 R CdTe混合像素光子计数X射线探测器  

      1特点DECTRIS 混合像素光子计数X射线探测器

       PILATUS3 R CdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉(CdTe)传感器中直接检测硬X射线的优点。
            与闪烁体的检测器相比,混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。 CdTe为Mo,Ag和In辐射提供接近100%的吸收效率。结合无噪声单光子计数,这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。
            实验室中的X射线源,尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多,因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号,由于没有暗电流和读出噪音,PILATUS3 R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性,例如复位噪声和非线性电荷响应。相反,由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供动力的快速计数电子设备,结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围,完全兼容所有实验室的X射线源。
             具有挑战性的实验室应用(如电荷密度研究和配对分布函数分析)依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据,PILATUS3 R CdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的独特组合,并且是实验室中这些要求的全能匹配。


      2、核心优势:
      DECTRIS 混合像素光子计数X射线探测器
           - Mo,Ag和In量子效率> 90%
           - 直接检测最清晰的空间分辨率
           - 没有读出噪音,也没有黑暗信号达到高精度
           - 高动态范围
           - 荧光背景抑制
           - 同步辐射证明的辐射硬度
           - 免维护运行
           - 高可靠性:没有容易发生故障的密封或复杂,冷却至室温以下

       


       3、应用领域
           - 电荷密度分析
           - 配对功能(PDF)分析
           - 高分辨率化学结晶学
           - 高压/高温XRD
           - 关键尺寸SAXS
           - 计算机断层扫描(CT)

           - 无损检测(NDT)

       

       

      4、技术参数: 

      PILATUS3   R CdTe

      300K

      300K-W

      探测器模块数量

      1 × 3

      3 x 1

      有效面积:宽×高   [mm²]

      83.8 × 106.5

      253.7 x 33.5

      像素大小 [μm²]

      172 x 172

      总像素数量

      487 × 619

      1475 × 195

      间隙宽度, 水平/垂直(像素)

      *每个模块之间水平间隙增加1个像素

      - */ 17

      7* / -

      非灵敏区 [ % ]

      5.7

      1.1

      缺陷像素

      < 0.1%

      帧频 [Hz]

      20

      读出时间 [ms]

      7

      点扩散函数

      1 pixel(FWHM)

      计数器深度

      20 bits(1,048,576 counts)

      功耗 [W]

      30

      尺寸(WHD)[mm³]

      158 x 193 x 262

      280 x 62 x 296

      重量 [kg]

      7.5

      7.0

      模块冷却

      水冷

      外接触发电压

      5V TTL

    联系方式
    • 电话

      010-56273432

    • 传真

      010-62712978

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