突破尺寸极限，重塑光谱分辨率：NYLIS高分辨率紫外/可见光谱仪深度解析

在光学测量领域，高分辨率与紧凑体积往往如同鱼与熊掌，不可兼得。然而，北京泰坤工业设备有限公司带来的全新德国NYLIS高分辨率紫外/可见光谱仪，凭借其突破性的光学设计，正在重新定义微型光谱仪的性能边界。

图：NYLIS光谱仪，将高性能蕴藏于紧凑机身之中

核心亮点：当“小巧"遇见“强大"

NYLIS光谱仪的核心魅力，源于其基于Aris系列平台的革新。它采用了焦距达120mm的对称式Czerny-Turner光学设计，相较于同尺寸产品，更长的焦距带来了更优的光学成像效果和更低的像差，使其能够实现低至0.05nm (FWHM) 的惊人光谱分辨率。这一数据，在如此紧凑的机身内（67.0 × 150.0 × 19.0 mm），令人惊叹。

图：优化的对称式Czerny-Turner光路，是实现超高分辨率的基石

精准捕获每一纳米：波长范围与分辨率详解

NYLIS系列专为对分辨率有高要求的应用而生，例如激光表征、精细原子光谱分析等。它标配10μm的入射狭缝和4096像素的Hamamatsu S13496 CMOS传感器，海量像素确保了微弱光谱细节也能被精准捕捉。

产品提供多种标准波长范围配置，以满足不同领域的精细测量需求：

• 超精细分析系列：如 400-500 nm、500-600 nm 等波段，典型分辨率可达 0.05 nm，适用于分析激光器的单模特性或复杂元素的特征谱线。

• 宽谱通用系列：如 400-1000 nm，典型分辨率 0.33 nm，兼顾了宽覆盖范围和不错的分辨能力，适用于常规光谱分析。

图：NYLIS在不同标准波长配置下的典型与分辨率表现

值得注意的是，用户还可根据需求定制起始和终止波长，甚至更换从10到300μm不等的入射狭缝，以在灵敏度和分辨率之间找到适合应用的平衡点。

性能参数速览：不止于“高分辨率"

一台优秀的光谱仪，是光学、电子学和机械设计的结合。NYLIS在这些方面同样表现良好：

• 光学特性：采用对称式Czerny-Turner设计，焦距120mm，数值孔径0.07。内置探测器镜头和可选的级次分选滤光片，有效抑制杂散光（0.1%），确保测量纯净度。

• 电子学与接口：16位A/D转换器，信噪比高达550，动态范围5500:1。支持通过USB 2.0或UART进行通信，并配备了触发输入/输出、模拟输入/输出等丰富接口，便于集成到复杂的自动化系统中。其Type-C USB接口和16针辅助接口，保证了高速数据传输与外部设备控制的便捷性。

• 软件与开发支持：标配支持Windows 7及以上版本的应用软件，并提供完整的软件开发包（SDK），包含演示代码和驱动文档，让二次开发变得异常简单。

应用场景聚焦：为严苛测量而生

由于其设计上对分辨率的高追求，NYLIS在以下场景中具有显著优势：

• 激光表征：精确测量激光的线宽、中心波长及边模抑制比。

• 气体检测：分辨具有精细吸收结构的特征气体，如NOx、Hg等。

• 等离子体诊断：监控等离子体发射光谱中的细微变化。

• 科研教学：用于原子光谱、分子光谱学的高精度实验。

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德国Avenir NYLIS系列高分辨便携光纤光谱仪有北京泰坤工业设备有限公司总代理。