POLLUX 交付，助力国仪量子Xvero-5000 衍射分析能力升级

POLLUX 交付，助力国仪量子Xvero-5000 衍射分析能力升级

DECTRIS POLLUX 能量分辨探测器已启动在中国的交付。国仪量子已将 POLLUX 集成于其 Xvero-5000 多晶粉末 X 射线衍射仪，完成整机适配，并取得良好的实测表现。本次交付也得到经销商北京泰坤工业设备有限公司的大力支持。

从探测器交付、整机适配到样品实测，国仪量子将 POLLUX 的能量分辨探测优势融入 Xvero-5000 的衍射分析能力。两组实测结果，展示了此次适配带来的提升：

·       痕量相识别：在 0.2 wt% LaB₆/Si 样品中，强度仅 54.92 counts 的 LaB₆ 弱衍射峰清晰可辨。

·       荧光背景抑制：在本次 Fe₂O₃ 对比测试中，信噪比由搭载 MYTHEN 2R 时的 95 提高至 1121，达到原来的约 11.8 倍。

实测验证：更清晰的弱峰，更低的荧光背景

案例 1｜痕量相识别：0.2 wt% LaB₆/Si

对于含量较低的物相，能否从背景中分辨出微弱衍射信号，是影响分析结果的重要因素。在 0.2 wt% LaB₆/Si 样品测试中，LaB₆（100）特征峰位于 2θ≈21.35°，强度仅为 54.92 counts。

局部放大谱图显示，搭载 POLLUX 的国仪量子 Xvero-5000 能够清晰呈现这一弱衍射峰。POLLUX 的背景抑制能力，为 Xvero-5000 识别低含量物相提供了有力支持。

图 1｜Xvero-5000 搭载 POLLUX 测得的 0.2 wt% LaB₆/Si 衍射谱图及局部放大图

案例 2｜高荧光样品测试：Fe₂O₃

采用 Cu 靶测试含铁样品时，激发的 Fe 特征荧光会抬升衍射背景，降低信噪比。在国仪量子 Xvero-5000 上开展的 Fe₂O₃ 对比测试中，POLLUX 凭借优于 600 eV 的能量分辨率，有效抑制荧光干扰，使衍射背景明显降低、基线更加平坦。

在相同测试与评价条件下，搭载 POLLUX 后，对比上一代探测器，背景噪声标准差降至 1.9 counts；Fe₂O₃（104）特征峰提高至 2130 counts；信噪比提高至 1121，达到原来的约 11.8 倍。

这一结果表明，POLLUX 的集成为 Xvero-5000 带来了更低的背景与更高的信噪比，有助于减少荧光干扰对分析的影响，为高荧光样品中的弱峰辨识提供更好的数据基础。

图 2｜Xvero-5000 搭载 POLLUX 与 MYTHEN 2R 测得的 Fe₂O₃ 衍射谱图对比

高效采集与自动化测试，拓展整机应用能力

除低背景和高信噪比表现外，POLLUX 采用原生二维探测器架构，兼具一维高效采集与二维成像能力。标准版支持 256 个通道同步采集；二维模式可直观呈现衍射环、衍射弧等特征，为样品择优取向等分析提供更多信息。

在国仪量子 Xvero-5000 平台上，这些探测能力可进一步与整机的自动化测试配置结合。配合 90 位自动进样器，可实现自动换样、连续测量与数据存储，为高通量测试和无人值守运行提供支持，让数据质量的提升与测试效率的改善相互配合。

国仪量子 Xvero-5000 多晶粉末 X 射线衍射仪

以交付为起点，期待更多合作成果

作为 POLLUX 在中国的客户之一，国仪量子已通过 Xvero-5000 的整机适配与样品实测，展现出新一代探测技术在衍射分析中的应用价值。此次交付与适配，也为 DECTRIS 与国仪量子的后续合作奠定了基础。

我们期待与国仪量子继续携手，围绕更多样品类型和应用需求开展探索，让 POLLUX 的探测性能与 Xvero-5000 的整机能力更充分地结合，为用户带来更高质量的衍射数据和更高效的测试体验。