第 23 届残余应力学术会议

近日，第 23 届残余应力学术会议在江苏南通顺利召开。本次会议由中国机械工程学会主办，汇聚国内残余应力领域高校、科研院所、主机厂商、航空航天、轨道交通、核电、装备制造等领域专家学者与工程技术人员，围绕残余应力测试新方法、新标准、仪器国产化、工程应用难题开展深度研讨与技术交流。北京泰坤工业设备有限公司携瑞士 DECTRIS POLLUX 光子计数探测器方案参会，面向 X 射线残余应力分析仪配套应用进行技术分享，获得与会嘉宾广泛关注。

残余应力是影响构件疲劳寿命、尺寸稳定性、腐蚀开裂风险的核心因素，X 射线衍射法作为主流无损检测手段，长期在科研与工业质检中发挥关键作用。而探测器，正是整套 X 射线残余应力分析仪的数据核心，直接决定背底抑制能力、峰形质量、测量速度与应力结果稳定性。传统线阵、面阵探测器在荧光干扰强、基体复杂、微小区域测试场景下，易存在信噪比不足、计数率受限、测试耗时久等痛点，制约高精度残余应力检测落地。

北京泰坤工业作为瑞士 DECTRIS 中国区工业OEM合作经销商，本次重点推介POLLUX 能量分辨型光子计数探测器在 X 射线残余应力分析仪上的集成方案，POLLUX 搭载能量甄别光子计数技术，可有效滤除样品荧光、高能散射线等杂散背景，显著提升峰背比；兼顾优秀能量分辨率、高计数率与大有效探测面积，在 sin²ψ 法、cosα 法等主流应力测试模式下，能够更快采集衍射环信号，缩短单点测量时长，同时保证衍射数据重复性，支持焊接接头、喷丸强化层、热处理镀层、增材制造等复杂试样的表层残余应力与残余奥氏体同步检测。

对比常规探测器方案，POLLUX 适配新一代台式、便携式、机器人型 X 射线残余应力分析仪开发：紧凑结构方便仪器整机集成；像素化光子计数无暗电流、无读出噪声，长期稳定性强；可适配 Cr 靶、Cu 靶等常用靶材，满足航空铝合金、高强钢、钛合金、高温合金等多类工程材料测试需求，为残余应力仪器厂商提供高性能探测核心组件，助力国内残余应力检测装备技术升级。

会议现场，泰坤团队与众多残余应力仪研发企业、高校测试中心、失效分析实验室专家深入交流，围绕 POLLUX 探测器的实测案例、集成难点、参数匹配、标准符合性展开探讨，针对大家关心的荧光抑制、小光斑微区应力测量、批量构件快速检测等工程痛点给出方案参考。不少参会厂商表达了配套测试、样机联调的合作意向。

未来，北京泰坤工业将持续做好 DECTRIS 全系列探测器技术支撑、应用测试与本地化服务，持续参与残余应力、X 射线衍射相关学术交流，为国内残余应力分析仪国产化升级提供可靠的核心探测解决方案。