
产品简介

产品分类Product Categories

相关文章Related Articles
Deeplight FT激光器:以氮化硅PIC实现超窄线宽与GHz级线性扫频
告别繁琐校准:丹麦Lightnovo拉曼OEM模块如何重新定义光谱集成
大尺寸晶体 + 智能算法:GT-40 伽马能谱仪的精准测量之道
从线色散原理,看 NYLIS 如何在150毫米机身内折叠出 0.05 nm分辨率
高分子材料分析仪
随着对正电子和正电子素及其与物质相互作用特性的深入了解,使正电子湮没技术在原子物理、分子物理、固态物理、表面物理、化学及生物学、医学等领域得到广泛应用,并取得*的研究成果。它在诸如检验量子电动力学基本理论、研究弱相互作用、基本对称性及天体物理等基础科学中也发挥了重要作用。同时,随着人们对正电子湮没技术方法学上研究的深入进展,使这一门引人注目的新兴课题得到更快的发展。
实验用放射源22Na,其衰变纲图如右图所示。该源发生 衰变放出一个正电子后几乎同时(仅迟3 ps左右)还发射一个能量为1.28 MeV的 光子。因此,测量1.28 MeV的 光子与正电子湮没后放出的 光子(0.511 MeV)之间的时间间隔,就可得到正电子寿命。对每个湮没事件都可测得湮没过程所需时间。对足够多的湮没事件(~106个)进行统计,就可得到一个正电子湮没寿命谱。
高分子材料分析仪
系统集成测试报告参数:
系统时间分辨率(用50μCi 60Co源测量):
保证值:≤ 200ps;
典型值:≤ 180ps